سمینار روش های شناسایی و ارزیابی ذرات نانو و تجهیزات مورد نیاز شناسایی

سمینار روش های شناسایی و ارزیابی ذرات نانو و تجهیزات مورد نیاز شناسایی سمینار روش های شناسایی و ارزیابی ذرات نانو و تجهیزات مورد نیاز شناسایی

دسته : -سمینار

فرمت فایل : pdf

حجم فایل : 8710 KB

تعداد صفحات : 164

بازدیدها : 209

برچسبها : ذرات نانو تجهیزات شناسایی SEM TEM

مبلغ : 10000 تومان

خرید این فایل

دانلود سمینار و پروژه پایانی روش های شناسایی و ارزیابی ذرات نانو و معرفی تجهیزات مورد نیاز برای شناسایی

سمینار و پروژه پایانی برای دریافت درجه کارشناسی ارشد مهندسی مواد شناسایی و انتخاب مواد مهندسی

روش های شناسایی و ارزیابی ذرات نانو و معرفی تجهیزات مورد نیاز برای شناسایی

DEPARTMENT OF METALLURGY ENGINEERING "M.Sc." THESIS

INVESTIGATION ON NANO PARTICULATES AND PRESENTATION THE NECESSARY EQUIPMENTS

پروژه دانلودی حاضر در 7 فصل کلی با عناوین :

چکیده

مقدمه

فصل اول میکروسکوپی با نور و الکترون

فصل دوم الکترون ها و واکنش آنها با نمونه

فصل سوم میکروسکوپ الکترونی روبشی (Scanning Electron Microscope, SEM)

فصل چهارم میکروسکوپ الکترون عبوری (Transmission Eiectrin Microscopy,TEM)

فصل پنجم آنالیز شیمیایی در میکروسکوپ الکترونی

فصل ششم سایر تکنیکهای تکمیلی (other complementary techniques)

فصل هفتم دستگاه (XRD (X-RAY DIFFRACTION))

در نهایت نیز منابع و مواخذ ذکر شده است

چکیده :

امروزه بررسی ویژگی و خواص مواد بدون مطالعه ریز ساختار ها امکان پذیر نیست بررسی آرایش اتمی به همراه آنالیز موضعی، اطلاعات ارزشمندی برای درک خواص و رفتار مواد و طراحی مواد نو و پیش بینی خواص مورد نیاز فراهم نموده است. توسعه دنیای نانو مرهون پیشرفت و تکامل ابزار شناسایی ریز ساختار و خواص موضعی مواد می باشد. محققان با استفاده از تکنیک های جدید توانسته اند به بزرگنمایی هایی بالاتر از یک میلیون برابر و در مقیاس سه بعدی تا حد تفکیک اتمی دست یابند. از این رودر اینسمینار سعی شده است با معرفی روش های شناسایی و ارزیابی ذرات نانو یک جمع بندی از تجهیزات مورد نیاز برای شناسایی ساختارهای نانو و هم چنین مواد نان ساختار ارائه گردد تکنیگ های مطرح شده در این سمینار در طیف گسترده ای از حوزه های مختلف پژوهشی از جمله متالوژی سرامیک و کامپوزیت شیمی سطح فیزیک پلیمر پزشکی و … کاربرد دارد.

میکروسکوپی با نور و الکترون

همانطور که خواهید دید نکات بسیار بیشتری از آنچه که تا به حال اشاره شد در مورد tem مطرح است خصوصا که راه های فراوانی برای کنترل فرآیند تشکیل تصویر به گونه ای که جزئیات خاصی از نمونه آشکار شود وجود دارد. علاوه بر این، در سالهای اخیر امکانات فراوانی برای آنالیز موضعی نمونه نیز فراهم آمده است. جزئیات روشهای آنالیز مانند طیف نگاری پرتو x . پرتو الکترونی (electron spectrometry) امروزه بخشی از تجهیزات متداول میکروسکوپ هستند نه تنها اطلاعات شیمیایی بلکه اطلاعات ساختاری را نیز می توان به آسانی از طریق پراش الکترونی در sem یا tem به دست آورد...

خرید و دانلود آنی فایل

به اشتراک بگذارید

Alternate Text

آیا سوال یا مشکلی دارید؟

از طریق این فرم با ما در تماس باشید